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日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng) 光學測量儀
更新日期：2024-05-17
訪問量：2121
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng)Modular Optical Pen DUO
產(chǎn)品特征
1 實現(xiàn)更精確的表面形狀測量的必然要求，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外實現，還安裝了一種新的“干涉測量模式"鞒?，F(xiàn)在可以處理更精確的表面形狀測量表現明顯更佳。兩種模式均可根據(jù)需要的測量精度使用狀態，擴展了應(yīng)用范圍。
2 模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式指導。與之前的型號一樣廣泛認同，系統(tǒng)配置簡單易用，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆形模塊即可流動性。
測量原理（干涉測量方式）
從光源發(fā)出的光被測量對象鍛造、參考板（參考平面）等反射。此時持續創新，兩束反射光之間會產(chǎn)生光程差改善。如圖所示，將參考板插入待測物體前協調機製，使其盡量靠近信息化，當光程差進入相干長度時，兩束反射光就會發(fā)生干涉實踐者。由于這種干涉的光譜強度受波長調(diào)制取得明顯成效，因此可以通過同軸顏色校正光學筆對其進行測量和分析，從而實現(xiàn)更精確的厚度測量數據。
日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng)Modular Optical Pen DUO
產(chǎn)品特征
1 實現(xiàn)更精確的表面形狀測量創新的技術，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外，還安裝了一種新的“干涉測量模式"「采w範圍，F(xiàn)在可以處理更精確的表面形狀測量優化程度。兩種模式均可根據(jù)需要的測量精度使用積極性，擴展了應(yīng)用范圍奮勇向前。
2 模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式。與之前的型號一樣，系統(tǒng)配置簡單易用組建，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆形模塊即可各有優勢。
測量原理（干涉測量方式）
從光源發(fā)出的光被測量對象、參考板（參考平面）等反射重要的意義。此時持續，兩束反射光之間會產(chǎn)生光程差。如圖所示再獲，將參考板插入待測物體前產品和服務，使其盡量靠近，當光程差進入相干長度時體驗區，兩束反射光就會發(fā)生干涉增多。由于這種干涉的光譜強度受波長調(diào)制，因此可以通過同軸顏色校正光學筆對其進行測量和分析有望，從而實現(xiàn)更精確的厚度測量進一步推進。
