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日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng) 光學(xué)測量儀
更新日期：2024-05-17
訪問量：1757
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng)Modular Optical Pen DUO
產(chǎn)品特征
1 實現(xiàn)更精確的表面形狀測量不久前，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外，還安裝了一種新的“干涉測量模式"詫嵒A，F(xiàn)在可以處理更精確的表面形狀測量積極。兩種模式均可根據(jù)需要的測量精度使用，擴展了應(yīng)用范圍前景。
2 模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式特點。與之前的型號一樣，系統(tǒng)配置簡單易用落實落細，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆形模塊即可。
測量原理（干涉測量方式）
從光源發(fā)出的光被測量對象組成部分、參考板（參考平面）等反射深入闡釋。此時，兩束反射光之間會產(chǎn)生光程差高效化。如圖所示大大提高，將參考板插入待測物體前，使其盡量靠近完成的事情，當(dāng)光程差進入相干長度時調整推進，兩束反射光就會發(fā)生干涉。由于這種干涉的光譜強度受波長調(diào)制研究成果，因此可以通過同軸顏色校正光學(xué)筆對其進行測量和分析發展契機，從而實現(xiàn)更精確的厚度測量。
日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng)Modular Optical Pen DUO
產(chǎn)品特征
1 實現(xiàn)更精確的表面形狀測量，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外齊全，還安裝了一種新的“干涉測量模式"V泛關註，F(xiàn)在可以處理更精確的表面形狀測量。兩種模式均可根據(jù)需要的測量精度使用置之不顧，擴展了應(yīng)用范圍多樣性。
2 模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式。與之前的型號一樣試驗，系統(tǒng)配置簡單易用規模，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆形模塊即可。
測量原理（干涉測量方式）
從光源發(fā)出的光被測量對象新格局、參考板（參考平面）等反射作用。此時，兩束反射光之間會產(chǎn)生光程差管理。如圖所示，將參考板插入待測物體前，使其盡量靠近切實把製度，當(dāng)光程差進入相干長度時優化上下，兩束反射光就會發(fā)生干涉。由于這種干涉的光譜強度受波長調(diào)制最新，因此可以通過同軸顏色校正光學(xué)筆對其進行測量和分析發揮重要作用，從而實現(xiàn)更精確的厚度測量。
