產(chǎn)品展示PRODUCTS
日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng) 光學(xué)測量儀
更新日期：2024-05-17
訪問量：1955
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng)Modular Optical Pen DUO
產(chǎn)品特征
1 實現(xiàn)更精確的表面形狀測量足了準備，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外規模設備，還安裝了一種新的“干涉測量模式"。現(xiàn)在可以處理更精確的表面形狀測量穩步前行。兩種模式均可根據(jù)需要的測量精度使用至關重要，擴展了應(yīng)用范圍。
2 模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式指導。與之前的型號一樣建設項目，系統(tǒng)配置簡單易用，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆形模塊即可服務品質。
測量原理（干涉測量方式）
從光源發(fā)出的光被測量對象傳遞、參考板（參考平面）等反射。此時過程，兩束反射光之間會產(chǎn)生光程差的發生。如圖所示，將參考板插入待測物體前進一步完善，使其盡量靠近相結合，當(dāng)光程差進入相干長度時提升，兩束反射光就會發(fā)生干涉。由于這種干涉的光譜強度受波長調(diào)制相關性，因此可以通過同軸顏色校正光學(xué)筆對其進行測量和分析競爭力，從而實現(xiàn)更精確的厚度測量。
日本optiworks非接觸式 3D 測量系統(tǒng)Modular Optical Pen DUO
產(chǎn)品特征
1 實現(xiàn)更精確的表面形狀測量的必然要求，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外的過程中，還安裝了一種新的“干涉測量模式"。現(xiàn)在可以處理更精確的表面形狀測量發展基礎。兩種模式均可根據(jù)需要的測量精度使用延伸，擴展了應(yīng)用范圍。
2 模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式要求。與之前的型號一樣，系統(tǒng)配置簡單易用，只需根據(jù)所需的測量精度更換筆形模塊即可不斷發展。
測量原理（干涉測量方式）
從光源發(fā)出的光被測量對象便利性、參考板（參考平面）等反射。此時非常重要，兩束反射光之間會產(chǎn)生光程差實事求是。如圖所示，將參考板插入待測物體前行動力，使其盡量靠近結構，當(dāng)光程差進入相干長度時，兩束反射光就會發(fā)生干涉落到實處。由于這種干涉的光譜強度受波長調(diào)制效果，因此可以通過同軸顏色校正光學(xué)筆對其進行測量和分析，從而實現(xiàn)更精確的厚度測量營造一處。
