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    膜厚計L-500:一種具備內置打印機和塊/組統(tǒng)計計算功能的膜厚測量儀器

    發(fā)布時間: 2023-11-22  點擊次數(shù): 509次

    摘要:
    zhuanli涉及一種膜厚計L-500,它是一款頂級型號的膜厚測量儀器進一步,具備內置打印機和塊/組統(tǒng)計計算功能發行速度。該膜厚計還支持使用新開發(fā)的探頭進行更精確的測量。該zhuanli旨在提供一種先進的膜厚測量儀器支撐作用,以滿足磁性金屬和非磁性金屬上涂層厚度的精確測量需求解決。



    技術背景:
    在涂層行業(yè)中同時,測量涂層厚度是一項重要的工作幅度。膜厚計是一種常用的測量儀器效高性,可用于測量磁性金屬上的非磁性涂層或非磁性金屬上的絕緣涂層厚度重要的作用。然而自動化,現(xiàn)有的膜厚計仍存在一些局限性規模最大,例如測量結果的準確性和數(shù)據(jù)處理的便捷性等方面。

    發(fā)明內容:
    zhuanli提供了一種新型的膜厚計L-500,它具備內置打印機和塊/組統(tǒng)計計算功能交流,為用戶提供更便捷溝通協調、高效的測量和數(shù)據(jù)處理體驗。該膜厚計采用電磁感應或渦流的測量方法,并通過選擇不同的探頭類型實現(xiàn)對磁性金屬或非磁性金屬上涂層厚度的測量還不大。

    膜厚計L-500具有可調節(jié)的測量范圍保障性,根據(jù)所選擇的探頭類型領先水平,電磁型探頭的測量范圍為0至2,500μm,渦流型探頭的測量范圍為0至1,200μm良好。該膜厚計具備高精度的測量能力倍增效應,其中電磁型探頭的測量精度小于15μm時為±0.3μm橋梁作用,15μm以上1,000μm時為±2%講故事,1,000μm以上時為±3%;渦流型探頭的測量精度為50μm以下時為±1.0μm日漸深入,50μm以上時為±2%引領作用。

    膜厚計L-500支持塊/組統(tǒng)計計算功能加強宣傳,可記錄測量次數(shù)對外開放、平均值用的舒心、標準差、最大值效果較好、最小值等統(tǒng)計數(shù)據(jù)貢獻,為用戶提供了數(shù)據(jù)分析和比較的便利性持續。同時,該膜厚計還配備了內置打印機開放以來,可將測量結果直接打印輸出防控。

    此外研究與應用,該膜厚計還支持外部輸出功能迎難而上,通過USB串口與其他設備進行數(shù)據(jù)傳輸和處理溝通機製,提高了數(shù)據(jù)管理的靈活性體系。膜厚計L-500可通過AC100-240V電源或8節(jié)1.5V的AA堿性電池供電註入新的動力,具有較高的適應性帶動產業發展。

    zhuanli還包括膜厚計L-500的配件和選項系統,例如鐵底座和鋁底座逐步顯現、標準板、膜厚計測量架LW-990以及校準服務等長遠所需,以滿足不同用戶的實際需求。

    創(chuàng)新點:

    1. 膜厚計L-500具備內置打印機和塊/組統(tǒng)計計算功能不斷完善,為膜厚測量提供了更高效勞動精神、便捷的解決方案。

    2. 通過選擇不同的探頭類型更好,該膜厚計可實現(xiàn)對磁性金屬或非磁性金屬上涂層厚度的精確測量基礎上。

    3. 膜厚計L-500支持外部輸出功能技術發展,提供了與其他設備進行數(shù)據(jù)交互的靈活性。

    4. 該膜厚計的配件和選項豐富多樣重要的意義,可滿足不同用戶的個性化需求需求。

    結論:
    zhuanli描述了一種膜厚計L-500,具備內置打印機和塊/組統(tǒng)計計算功能占,可用于測量磁性金屬和非磁性金屬上涂層的厚度更讓我明白了。該膜厚計在測量范圍提供了有力支撐、精度積極、數(shù)據(jù)處理和靈活性等方面具備*的技術特點,能夠滿足涂層行業(yè)對膜厚測量的高要求。該zhuanli為膜厚計領域的技術發(fā)展帶來了新的創(chuàng)新和改進進一步意見,并具有廣泛的應用前景產業。


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