日本nanophoton隨機掃描共焦拉曼顯微鏡行業(yè)專用儀器儀表

更新日期：2024-05-16

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簡要描述：

日本nanophoton隨機掃描共焦拉曼顯微鏡 RAMANwalk
拉曼顯微鏡的缺點是測量時間非常長特點。我通過使用隨機過程理論和信息論成功地解決了這個問題積極回應。在沒有關(guān)于樣品的前瞻信息的情況下，激光束沿著路徑掃描又進了一步，并且可以在 5 到 10 倍于傳統(tǒng)掃描拉曼顯微鏡的測量時間內(nèi)獲得圖像多種場景。

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產(chǎn)品介紹

日本nanophoton隨機掃描共焦拉曼顯微鏡 RAMANwalk

基于隨機過程理論和信息論的原始光束掃描

顯著減少點掃描的測量時間

拉曼顯微鏡的缺點是測量時間非常長。我通過使用隨機過程理論和信息論成功地解決了這個問題貢獻力量。在沒有關(guān)于樣品的前瞻信息的情況下使用，激光束沿著路徑掃描，并且可以在 5 到 10 倍于傳統(tǒng)掃描拉曼顯微鏡的測量時間內(nèi)獲得圖像發行速度。

無需預處理的快速篩查

RAMANwalk 的內(nèi)置掃描方法不需要先驗信息更加堅強。即使對于顯微鏡難以找到的樣品，如果拉曼散射具有特征性能，光束也可以像活的一樣自動搜索初步建立，并且可以快速獲得必要的數(shù)據(jù)。雖然不需要整體信息供給，但如果存在異物的方法，則在測量 NG 等樣品時非常有效。

一切都在一個緊湊而美觀的外殼中

通過僅使用點掃描光學系統(tǒng)保障性，RAMANwalk 實現(xiàn)了緊湊的系統(tǒng)帶動產業發展。緊湊的系統(tǒng)安裝在一個漂亮的外殼中。它結(jié)合了拉曼顯微鏡所需的光學系統(tǒng)和電動調(diào)節(jié)機構(gòu)十分落實。通過限度地減少分析所需的時間和精力倍增效應，我們實現(xiàn)了適合高速的可用性。

日本nanophoton隨機掃描共焦拉曼顯微鏡 RAMANwalk

規(guī)格

主要業(yè)績

空間分辨率	XY 350 nm製造業，Z 1000 nm（100x 物鏡優化服務策略，0.9NA）
光譜測量范圍	100 厘米-1 ~
光譜分辨率 (FWHM)	1.5cm -1 (@785nm, 1200g/mm)
光譜像素分辨率	0.74cm -1 /pixel (@785 nm, 1200 g/mm)

主要配置

激光波長	1 或 2 個波長（可選擇 488 nm、532 nm發展基礎、671 nm兩個角度入手、785 nm）
激光照射方式	點光源
衍射光柵	600 g/mm建強保護，最多同時安裝 3 個（可選）
探測器	高靈敏度熱電冷卻 CCD 1650 像素
掃描方式	XY 光束掃描 Z 平臺掃描
遮光罩	帶聯(lián)鎖
尺寸（寬x深x高）	298×854×436mm
選項	XY電動載物臺針孔測量偏振拉曼測量低波數(shù)測量 (50 cm -1 ) 特殊峰移測量