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X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ
更新日期：2024-05-14
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡(jiǎn)要描述：
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μFISCHERSCOPE ® X 射線 XDV ® -μ這是配備多毛細(xì)管光學(xué)元件的熒光 X 射線薄膜厚度測(cè)量?jī)x實現了超越。由于 X 射線聚焦在微小部件上，因此 X 射線強(qiáng)度強(qiáng)，可以進(jìn)行精確測(cè)量應用的因素之一。
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ
X射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ
日本進(jìn)口fischerX射線熒光測(cè)量?jī)x XDV ® -μ
特征
- X 射線聚焦在微小部件上支撐作用，X 射線強(qiáng)度強(qiáng)，可實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量品質。
- 薄膜厚度測(cè)量（示例） 0.1 µm 以下的 Au 和 Pd
- 使用可編程 XY 平臺(tái)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量
主要規(guī)格
它是一種使用多毛細(xì)管透鏡的熒光 X 射線測(cè)量設(shè)備積極回應。對(duì)于非常小的零件和結(jié)構(gòu)零件，可以進(jìn)行無(wú)損膜厚測(cè)量和材料分析深化涉外。
| 模型 | XDV-μ |
|---|---|
| 測(cè)量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測(cè)器 | 硅漂移探測(cè)器 (SDD) |
| X射線管 | 微調(diào)焦管 |
| 初級(jí)過(guò)濾器 | 4種 |
| X 射線光學(xué)元件 / 尺寸 | 多毛細(xì)管透鏡 Φ20µm（選項(xiàng) Φ10µm） |
| 車身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達(dá) 120W |
主要應(yīng)用
- 測(cè)量非常小的扁平部件和結(jié)構(gòu)部件全會精神，例如印刷電路板、接觸針又進了一步、引線框架等智能化。
- 電子元件和半導(dǎo)體產(chǎn)品中使用的功能鍍層的測(cè)量
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