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非接觸式鏡片中心厚度測量機
更新日期:2024-05-14
訪問量:1007
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
簡要描述:
非接觸式鏡片中心厚度測量機“ CT-Gauge"測量鏡片的中心厚度是一個相當困難的測量目標深刻認識,并且沒有建立測量方法註入了新的力量。
非接觸式鏡片中心厚度測量機“ CT-Gauge”
非接觸式鏡片中心厚度測量機“ CT-Gauge”
日本進口g-freude非接觸式鏡片中心厚度測量機“ CT-Gauge”
目前技術發展,圖像質(zhì)量正在從4K向8K轉(zhuǎn)變高品質,光學系統(tǒng)的性能也越來越嚴峻實事求是。在這樣的技術(shù)背景下,除了表面形狀和偏心精度外高效化,還規(guī)定了嚴格的中心厚度深入。
通常,當透鏡壁厚偏離設(shè)計值時關註度,球差會增加橫向協同,特別是對于微透鏡,壁厚誤差會導致球差擴大和焦點位置波動敢於挑戰。然而不斷創新,測量鏡片的中心厚度是一個相當困難的測量目標,并且沒有建立測量方法提供了遵循。
通常,當透鏡壁厚偏離設(shè)計值時關註度,球差會增加橫向協同,特別是對于微透鏡,壁厚誤差會導致球差擴大和焦點位置波動敢於挑戰。然而不斷創新,測量鏡片的中心厚度是一個相當困難的測量目標,并且沒有建立測量方法提供了遵循。
原因是測量點只有一個參與水平,難以明確定位。
另外服務效率,如果可能的話明確相關要求,我想避免接觸測量,這可能會導致劃痕統籌發展。尤其是半導體曝光機
用大口徑鏡頭深化涉外,玻璃材質(zhì)是有原因的,但要求光學性能生產製造,
壁厚公差開展試點。
測量的另一個原因是
我們響應了在鏡片加工過程中(特別是在初始階段)測量壁厚的要求。軟
玻璃材料被稱為難玻璃材料共同,由于晶體取向問題進一步,具有被快速刮削的特性。此外強大的功能,材料成本
高實際需求,我們希望減少加工錯誤。因此優勢,需要一種即使表面為磨砂玻璃
也可以測量壁厚的設(shè)備善謀新篇,在我們的實驗中,即使使用拋光砂 80 #
也可以測量便利性,如下圖所示方法。
另外服務效率,如果可能的話明確相關要求,我想避免接觸測量,這可能會導致劃痕統籌發展。尤其是半導體曝光機
用大口徑鏡頭深化涉外,玻璃材質(zhì)是有原因的,但要求光學性能生產製造,
壁厚公差開展試點。
測量的另一個原因是
我們響應了在鏡片加工過程中(特別是在初始階段)測量壁厚的要求。軟
玻璃材料被稱為難玻璃材料共同,由于晶體取向問題進一步,具有被快速刮削的特性。此外強大的功能,材料成本
高實際需求,我們希望減少加工錯誤。因此優勢,需要一種即使表面為磨砂玻璃
也可以測量壁厚的設(shè)備善謀新篇,在我們的實驗中,即使使用拋光砂 80 #
也可以測量便利性,如下圖所示方法。
為了解決這些問題能力建設,我們在5年前開發(fā)了一種非接觸式鏡片中心厚度測量機和諧共生,
這種改進的CT-gauge具有以下性能高質量。
◆ 產(chǎn)品配置(以下為標準配置規(guī)格)
1)高精度非接觸式位移計單元(2個)
2)精密XY掃描平臺
3)位移計賬驅(qū)動機構(gòu)
4)位移計4軸調(diào)整單元(2臺) )? FIX 載物臺規(guī)格)
5) 新開發(fā)的“內(nèi)置陶瓷
位移計單元(帶獨立傾斜調(diào)整機構(gòu))” 6) 通用樣品夾持機構(gòu)(Φ10 至 100 )
7) 專用控制盒
8) 筆記本電腦用于分析
9)的基礎(chǔ)上的3D地形和透鏡頂點分析算法定制軟件
HYBIRD峰值分析系統(tǒng)(HyPAS)安裝
10)專用布線電纜
* 1專用樣品架需要Φ10或更行问?。▎为毘鍪郏┑臉悠?/font>
* 2抗振動支架不是特別必要交流等,但最好有一個操作環(huán)境溫度恒定的空調(diào)房間為產業發展。
這種改進的CT-gauge具有以下性能高質量。
◆ 產(chǎn)品配置(以下為標準配置規(guī)格)
1)高精度非接觸式位移計單元(2個)
2)精密XY掃描平臺
3)位移計賬驅(qū)動機構(gòu)
4)位移計4軸調(diào)整單元(2臺) )? FIX 載物臺規(guī)格)
5) 新開發(fā)的“內(nèi)置陶瓷
位移計單元(帶獨立傾斜調(diào)整機構(gòu))” 6) 通用樣品夾持機構(gòu)(Φ10 至 100 )
7) 專用控制盒
8) 筆記本電腦用于分析
9)的基礎(chǔ)上的3D地形和透鏡頂點分析算法定制軟件
HYBIRD峰值分析系統(tǒng)(HyPAS)安裝
10)專用布線電纜
* 1專用樣品架需要Φ10或更行问?。▎为毘鍪郏┑臉悠?/font>
* 2抗振動支架不是特別必要交流等,但最好有一個操作環(huán)境溫度恒定的空調(diào)房間為產業發展。
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