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日本hrd熱范圍TM3

日本hrd熱范圍TM3

更新日期:2024-05-12

訪問量:906

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

簡要描述:
日本hrd熱范圍TM3
用于測量薄膜和微小區(qū)域的熱發(fā)射率
用于測量薄膜和微小區(qū)域的熱發(fā)射率

日本hrd熱范圍TM3

日本hrd熱范圍TM3

 

特征

  • 熱物理特性顯微鏡是一種測量熱效率的設備系統,熱效率是熱物理特性值之一解決方案。
  • 它是一種可以通過點大幅拓展,線和表面來測量樣品的熱性能的設備相結合。
  • 還可以測量微米級的熱物理性質(zhì)分布,這在常規(guī)的熱物理性質(zhì)測量裝置中被認為是困難的模式。
  • 它是一臺可對熱物理性質(zhì)進行非接觸式和高分辨率測量的設備效果較好。
  • 檢測光斑直徑為3μm,可在微小區(qū)域內(nèi)進行高分辨率的熱物理性質(zhì)測量(點/線/面測量)貢獻。
  • 由于可以通過改變深度范圍進行測量廣泛應用,因此可以測量從薄膜/多層膜到塊狀材料。
  • 您也可以在板上測量樣品持續。
  • 激光非接觸式測量情況。
  • 可以檢測薄膜下方的裂縫,空隙和剝離高品質。

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熱物理顯微鏡的測量原理(概述)

在樣品上形成金屬薄膜等多個領域,并用加熱激光器定期加熱。

  1. 由于金屬的反射率具有隨表面溫度而變化的性質(zhì)(熱電阻法)統籌,因此通過捕捉與加熱激光同軸照射的檢測激光的反射強度的變化哪些領域,來測量表面的相對溫度變化。 產品和服務。
  2. 熱量從金屬薄膜傳播到樣品研究與應用,導致表面溫度響應的相位延遲。該相位延遲取決于樣品的熱性質(zhì)迎難而上。通過測量加熱光和檢測光之間的相位延遲來獲得熱效率有效保障。
熱物理顯微鏡的測量原理(概述)

    主要規(guī)格

    名稱/產(chǎn)品名稱熱物理特征顯微鏡/熱顯微鏡
    測量方式熱物理性質(zhì)分布測量(1D,2D更高效,1點)
    測量項目熱效率稍有不慎,(熱擴散率)探索,(熱導率)
    檢測光斑直徑約3μm
    1點測量標準時間10秒
    待測薄膜厚度從幾百納米到幾十微米
    重復精度耐熱玻璃和硅的熱效率小于±10%
    樣本1.樣品架30 mm x 30 mm厚度5 mm 
    2.板狀樣品30 mm x 30 mm以下且3 mm以下
    • 需要對樣品表面進行鏡面拋光。
    • 樣品表面需要進行Mo濺射全面協議。
    工作溫度極限24°C±1°C(根據(jù)設備中內(nèi)置的溫度傳感器)
    載物臺移動距離? X軸方向20mm
    ? Y軸方向20mm
    ? Z軸方向10mm
    激光加熱半導體激光波長:808nm
    激光檢測半導體激光波長:658nm
    電源供應交流100V 1.5kVA
    標準配件樣品架重要作用,參考樣品
    選項光學平臺,空調(diào)講實踐,空調(diào)房工藝技術,濺射設備

     

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