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日本daiichi高精度鏡冷露點儀Multi Dew
更新日期：2024-05-11
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本daiichi高精度鏡冷露點儀Multi Dew
日本daiichi高精度鏡冷露點儀Multi Dew
高精度鏡冷露點儀Multi Dew
鏡冷式露點儀?我們根據(jù)在日本銷售的超過1000臺產(chǎn)品的經(jīng)驗深刻變革，創(chuàng)建了的高精度鏡冷式露點儀Multi Dew實際需求。
采用了易于操作以及優(yōu)異的再現(xiàn)性和響應(yīng)性的觸摸面板服務好。它可以在任何地方使用新趨勢，例如校準(zhǔn)室，實驗室或生產(chǎn)工廠發展邏輯。
<<特性>>
?由于新開發(fā)的后視鏡混合傳感器凝聚力量，對濕度變化具有高響應(yīng)性。實現(xiàn)高跟隨性聽得進。
?露點±0.15°C dp和溫度±0.1°C的高精度測量新的力量。
?寬范圍露點測量-40至+ 120°C dp。
單個Multi Dew可以測量以前需要多個鏡面冷卻露點儀的范圍便利性。
-SD卡記錄功能標(biāo)準(zhǔn)-
與靈活的接口兼容全面展示，
RS485和以太網(wǎng)接口是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備以及模擬輸出。
露點測量精度：±0.15°Cdp重復(fù)性
：±0.05°Cdp
露點測量范圍：標(biāo)準(zhǔn)傳感器-40至+ 90°Cdp /高溫傳感器-40至+ 120°Cdp
相對濕度范圍：0.45至100rh
[長期精度實現(xiàn)維護的兩項功能]
-動態(tài)污染校正（DCC
）為防止由于包括鏡面在內(nèi)的光路受到污染而導(dǎo)致測量精度下降（由于光源亮度降低而導(dǎo)致的光學(xué)平衡損失）深刻認識。定期重新校正光源平衡的程序核心技術。DCC直接參與系統(tǒng)控制，以確保始終獲得測量結(jié)果主動性，并自動消除由于附著在鏡面上的顆粒污染物而引起的任何錯誤創造性。
?過冷狀態(tài)消除功能（FAST技術(shù)）
迄今為止發展的關鍵，過冷狀態(tài)是鏡面冷卻露點儀誤差因素之一。當(dāng)測量露點低于0°C時規模設備，由于過冷現(xiàn)象真諦所在，鏡面上的水可能不會結(jié)霜。
由于露水和霜凍條件之間的飽和水蒸氣壓差競爭力，這可能導(dǎo)致約10％的測量誤差充分。FAST技術(shù)功能可自動控制鏡面處于冰凍狀態(tài)。
產(chǎn)品規(guī)格
| 測量精度 | ±0.15°Cdp（露點） ±0.1°C（溫度） |
|---|---|
| 重復(fù)性 | ±0.05°Cdp |
| 露點測量范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)傳感器：-40至+ 90°Cdp 高溫傳感器：-40至+ 120°Cdp |
| 溫度測量范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)傳感器：-40至+ 90°Cdp 高溫傳感器：-40至+ 120°Cdp |
| 相對濕度范圍 | 0.45-100相對濕度 |
| 反應(yīng)速度 | 10℃dp / 1min（取決于測量露點范圍） |
| 工作壓力范圍 | 0.1-2.5MPa |
| 連接電纜 | 3m（標(biāo)準(zhǔn)） 0.3集聚、5關註度、10和20m（可選） |
| 溫度感應(yīng)器 | φ3.0×75mm長 PT100 1/10 DIN Class A |
| 壓力傳感器 | 精度：±0.25％FSR 測量范圍：0至160 kPa或0至2.5 MPa 連接端口：1/8英寸NPT-M |
| 內(nèi)部計量單位 | 相對濕度：％，濕度：g / m3哪些領域，ppmV敢於挑戰， 混合比：g / kg，濕球溫度：°C積極，水蒸氣壓力：Pa探索， 壓力：kPa，Bara產業，Barg滿意度，Psia，Psig |
| 模擬量輸出 | 0至20mA可持續，4至20mA電流輸出 |
| 數(shù)字量輸出 | RS485（標(biāo)準(zhǔn)）主要抓手，以太網(wǎng) *可從網(wǎng)站下載PC軟件 |
| 報警輸出 | 無電壓觸點：1A 30Vdc |
| 數(shù)據(jù)記錄 | SD卡（可選） |
| 尺寸 | 機身：220 x 175 x 75毫米 |
| 重量 | 機身：1.5kg 傳感器：200g |
| 展示 | 5.7”彩色觸摸屏 |
| 使用環(huán)境 | -20至+ 50°C（無凝結(jié)） |
| 電源供應(yīng) | 100-240VAC，50 / 60Hz 30VA |
