日本densoku渦流膜測厚儀DS-110
更新日期：2024-05-11
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廠商性質：經銷商
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簡要描述：
日本densoku渦流膜測厚儀DS-110晶體振蕩可實現(xiàn)彎曲/球形對的高精度和短測量時間深刻變革。
日本densoku渦流膜測厚儀DS-110
日本densoku渦流膜測厚儀DS-110
?測量值顯示為數(shù)字且易于閱讀
?接通電源后立即開始測量，測量時間在1秒以內
?晶體振蕩法的高穩(wěn)定性（±1％）高精度?可進行
檢查無損
?直接讀取由于是表達方式，因此無需轉換
渦流膜厚儀DS-110的特點
易于閱讀的數(shù)字
測量值顯示是數(shù)字的重要的作用，易于閱讀深入交流研討。
可以立即進行測量
開關一打開就可以進行測量落到實處。測量時間也在1秒以內深入闡釋。
高穩(wěn)定性（±1％）高精度
由于采用了晶體振蕩方法強化意識，因此具有很高的穩(wěn)定性（±1％）和高精度集聚效應。
可以檢查
由于它是非破壞性的集成，因此可以進行的檢查。
無需轉換
它是直接讀取類型互動講，不需要轉換穩定性。
支持各種測量
它可以測量金屬上的薄膜，鍍層過程中，油漆去突破，樹脂等。（例如：鋁上的氧化膜重要部署，鐵上的鋅鍍層具體而言，噴漆）
最多可保存1000個數(shù)據(jù)
一條檢查線可以保存1000條數(shù)據(jù)。
還可以測量非金屬上的金屬涂層
它可以測量非金屬上的金屬涂層（例如智慧與合力，塑料上的鍍層）喜愛。
標配4種類型，最多可以測量70種薄膜厚度
切換開關最多可以測量4種類型的膜厚開放要求。另外向好態勢，通過在制造商處更換檢測線，可以測量70多種類型的膜厚服務機製。
可以在彎曲表面貢獻力量，球形表面和內部管道上進行測量
也可以在彎曲表面和球形表面上進行測量。另外大幅拓展，可以測量管等的內表面（φ12.7mm以上）發行速度。
打印輸出功能
您可以打印出測量數(shù)據(jù)和經過統(tǒng)計處理的值。
測量原理
 | 當載有高頻電流的探頭（測量線圈）靠近金屬時與時俱進，在金屬表面會產生渦電流結構。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的電導率高效，厚度溝通協調，形狀等的影響要素配置改革，并且穿透深度及其大小不同。 然后保障性，渦流流動以抵消探針的高頻磁場帶動產業發展，從而探針的高頻電阻值改變。高頻電阻值的這種變化被放大十分落實，曲線校正并顯示為數(shù)字值倍增效應。因此，膜厚值可以直接讀取為數(shù)字擴大。曲線校正是由微型計算機計算的多樣性。因此，它是高精度和高度穩(wěn)定的新格局。 |
渦流膜厚儀DS-110的規(guī)格
| 電源 | 帶AC適配器的AC100V-240V |
| 重量 | 3.4公斤 |
| 尺寸 | 330（W）x 90（D）x 180（H）毫米 |
渦流膜厚儀DS-110的探頭規(guī)格
| 1. 探頭有效范圍使用超細探頭時 | φ5mm的 φ3mm的 |
| 2.探頭線長 | 900毫米 |
| 3.根據(jù)導向器的類型可以在彎曲的表面上進行測量 | |
| 4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲面（標準） SM類型...平坦凹凸曲面（微細的） RP類型...凹面明顯，管內面 SR型...用于小直徑管道內表面 由所述膜測得的探頭A，B的厚度顯示，有C和D四種類型創新為先。 |
| 5.探針指南 | ＃180：平面測量 ＃120：φ25-60mm凸曲面測量 |
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