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    日本大冢電子Smart膜厚儀的技術(shù)特點

    發(fā)布時間： 2025-07-14　　點擊次數(shù)： 150次
    　　日本大冢電子(Otsuka)的Smart膜厚儀是一款手持式等地、高精度的測量設(shè)備深入實施，專為現(xiàn)場使用而設(shè)計提供堅實支撐。該設(shè)備能夠測量0.1μm單位的膜厚設計能力，并且具有非破壞性的測量能力，適用于具有形狀的樣品單產提升。此外參與水平，Smart膜厚儀不受基材材質(zhì)的限制，可以測量其鍍膜保持穩定。
     
    　　Smart膜厚儀的測量原理基于反射分光法(光干涉法)總之，這是一種非破壞性測量方法。該設(shè)備的膜厚測量范圍為1μm至50μm支撐作用，顯示上限為60μm研學體驗，重復精度達到2.1σ 0.01μm(SiO2膜1μm)。測量時間極短最為突出，僅需1秒內(nèi)落實落細，且測量層數(shù)為1層。數(shù)據(jù)輸出可以通過附屬操作屏幕顯示或以USB輸出Excel檔案高效化，測量點大小為Φ1mm以下製高點項目，重量約為1.1kg為產業發展。
     
    　　該設(shè)備還提供了筆型探頭選配，能夠測量狹窄區(qū)域或形狀的樣品有所增加，探頭Φ6mm服務好。此外，還有非接觸式載臺選配反應能力，對于濕膜或半導體晶圓等不想接觸的樣品共謀發展，可以通過自由設(shè)定探頭位置進行非接觸測量。這些特點使得Smart膜厚儀在產(chǎn)品開發(fā)結構重塑、產(chǎn)線設(shè)定聽得懂、質(zhì)量管理以及售后服務(wù)等多個領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用場景。
     
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