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日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測量儀NS-A系列 破碎設(shè)備

日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測量儀NS-A系列 破碎設(shè)備

更新日期:2024-05-14

訪問量:2909

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

簡要描述:
日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測量儀NS-A系列
NS-A系列細(xì)顆粒破碎力測量儀是一種通過壓頭對細(xì)顆粒和顆粒加壓,可以直接測量破碎時非常微弱的力的設(shè)備。可測量的負(fù)載為 10nN。通過更換檢測傳感器,可以測量高達(dá) 9 位至 10N 的各種微小力豐富內涵。在顆粒硬度(強(qiáng)度)和顆粒硬度(強(qiáng)度)的測量中服務,我們實現(xiàn)了易用性和測量精度實現。

日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測量儀NS-A系列

NS-A系列細(xì)顆粒破碎力測量儀是一種通過壓頭對細(xì)顆粒和顆粒加壓,可以直接測量破碎時非常微弱的力的設(shè)備舉行。可測量的負(fù)載為 10nN。通過更換檢測傳感器,可以測量高達(dá) 9 位至 10N 的各種微小力習慣。在顆粒硬度(強(qiáng)度)和顆粒硬度(強(qiáng)度)的測量中記得牢,我們實現(xiàn)了易用性和測量精度。

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- 可以測量用戶規(guī)定的任何顆粒的破碎力(強(qiáng)度)覆蓋。
-通過更換傳感器服務體系,可以測量從 10nN 到 10N 的寬范圍。
? 可測量 3 μm 的顆粒重要的作用。
- 溫控臺(可選)可控制臺溫高達(dá)150°C特點。
-高性能隔振臺(選件)可實現(xiàn)高精度測量,并*抑制測量噪音搶抓機遇。

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顆粒被壓碎時的運(yùn)動被記錄為視頻(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格)綠色化發展,并且有專門用于以與測量波形相關(guān)聯(lián)的形式回放的軟件。

日本nanoseeds細(xì)粒破碎力測量儀NS-A系列

適用于以下評價

?顆粒粉碎特性的測量
?調(diào)色劑溫度依賴性顆粒強(qiáng)度變化的測量
?原材料粉末的質(zhì)量控制?原材料選擇評估
?電池材料強(qiáng)度測量
?顆粒涂膜評估

? 一種墨粉顆粒強(qiáng)度的測量

?薄膜強(qiáng)度的測定

智能負(fù)載傳感器

通過根據(jù)樣品更換負(fù)載傳感器結論,可以測量各種細(xì)小顆粒和粒狀物料的破碎力應用創新。只需輕輕一按即可更換負(fù)載傳感器。通過使用來自傳感器外部的激光掃描負(fù)載檢測器來檢測負(fù)載增幅最大。我們實現(xiàn)了廣泛的測量檢測測量范圍具體而言,可以處理各種樣品。

規(guī)格

標(biāo)準(zhǔn)配件
專用測量軟件(適用于 Windows)
體視顯微鏡(屏幕放大倍數(shù) 3000x)
樣品臺(陶瓷鏡面制作)
附帶專用工具
專用個人電腦
金屬鹵化物光源(80W)
選項
智能負(fù)載傳感器測量范圍
(6種)
10mN-10N10μN(yùn)~1mN
1mN-100mN1 μN(yùn) 至 100 μN(yùn)
0.1mN-10mN10nN-10μN(yùn)
控溫階段可達(dá)150℃高性能隔振臺0.5Hz
NS-A系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
待測樣品3 微米至 1 毫米 
可測量負(fù)載范圍10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN
測量壓縮速度100 納米/秒至 50 微米/秒
圖像捕捉

3CCD攝錄一體機(jī)

溫控臺常溫~150℃
高性能隔振臺垂直 0.5Hz(可選)
尺寸/重量 身體450W x 500H x 450D (20kg)
控制器320W x 250H x 350D (10kg)
電源AC100V 3A



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