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日本tei化學發(fā)光分析儀CLA-FS5

日本tei化學發(fā)光分析儀CLA-FS5

更新日期：2024-05-11

訪問量：1515

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：
日本tei化學發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3
使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備平臺建設。
除了亮度之外重要作用，光譜測量也是可能的。它是一種標準產(chǎn)品現場，可用于所有應(yīng)用中的研究前來體驗。

日本tei化學發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

日本tei化學發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

 

 

 

 

化學發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實驗系統(tǒng)需求的設(shè)備。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備齊全。
除了亮度之外廣泛關註，光譜測量也是可能的。它是一種標準產(chǎn)品機製，可用于所有應(yīng)用中的研究各項要求。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
只能測量亮度發力。當不需要光譜測量時推薦使用優勢與挑戰。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測

使用超靈敏CCD相機的設(shè)備。可以測量微弱發(fā)光的圖像越來越重要的位置，并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度問題分析。它還可以同時測量多個樣品。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機和衍射光柵的瞬時光度光譜測量設(shè)備投入力度。可以在短時間內(nèi)（0.1秒）測量高分辨率光譜效果。盡管需要一定量的光發(fā)射，但是也可以積分測量時間并測量光譜中隨時間的變化技術。

 

化學發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實驗系統(tǒng)需求的設(shè)備優化上下。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
除了亮度之外最新，光譜測量也是可能的發揮重要作用。它是一種標準產(chǎn)品，可用于所有應(yīng)用中的研究模樣。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備取得顯著成效。
只能測量亮度。當不需要光譜測量時推薦使用數據顯示。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測

使用超靈敏CCD相機的設(shè)備責任。可以測量微弱發(fā)光的圖像服務，并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時測量多個樣品持續向好。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機和衍射光柵的瞬時光度光譜測量設(shè)備舉行。可以在短時間內(nèi)（0.1秒）測量高分辨率光譜。盡管需要一定量的光發(fā)射不容忽視，但是也可以積分測量時間并測量光譜中隨時間的變化習慣。

 

 

化學發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實驗系統(tǒng)需求的設(shè)備。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備組建。
除了亮度之外覆蓋，光譜測量也是可能的。它是一種標準產(chǎn)品進展情況，可用于所有應(yīng)用中的研究重要的作用。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
只能測量亮度明確相關要求。當不需要光譜測量時推薦使用服務為一體。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測

使用超靈敏CCD相機的設(shè)備。可以測量微弱發(fā)光的圖像特點，并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度相互配合。它還可以同時測量多個樣品。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機和衍射光柵的瞬時光度光譜測量設(shè)備品質。可以在短時間內(nèi)（0.1秒）測量高分辨率光譜積極回應。盡管需要一定量的光發(fā)射，但是也可以積分測量時間并測量光譜中隨時間的變化深化涉外。

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