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日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5

日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5

更新日期:2024-05-11

訪問量:1636

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

簡要描述:
日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3
使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備充分發揮。
除了亮度之外研究,光譜測量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品,可用于所有應(yīng)用中的研究。

日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

 

 

 

 

化學(xué)發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備十大行動。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備全技術方案。
除了亮度之外開展,光譜測量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品廣泛關註,可用于所有應(yīng)用中的研究。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備發力。
只能測量亮度優勢領先。當(dāng)不需要光譜測量時(shí)推薦使用。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測

使用超靈敏CCD相機(jī)的設(shè)備共創美好。可以測量微弱發(fā)光的圖像推動並實現,并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時(shí)測量多個(gè)樣品覆蓋範圍。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機(jī)和衍射光柵的瞬時(shí)光度光譜測量設(shè)備優化程度。可以在短時(shí)間內(nèi)(0.1秒)測量高分辨率光譜。盡管需要一定量的光發(fā)射奮勇向前,但是也可以積分測量時(shí)間并測量光譜中隨時(shí)間的變化不斷豐富。

 

化學(xué)發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備組建。
除了亮度之外各有優勢,光譜測量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品重要的意義,可用于所有應(yīng)用中的研究持續。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
只能測量亮度再獲。當(dāng)不需要光譜測量時(shí)推薦使用產品和服務。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測

使用超靈敏CCD相機(jī)的設(shè)備。可以測量微弱發(fā)光的圖像體驗區,并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度增多。它還可以同時(shí)測量多個(gè)樣品。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機(jī)和衍射光柵的瞬時(shí)光度光譜測量設(shè)備有望。可以在短時(shí)間內(nèi)(0.1秒)測量高分辨率光譜共享應用。盡管需要一定量的光發(fā)射,但是也可以積分測量時(shí)間并測量光譜中隨時(shí)間的變化最新。

 

 

化學(xué)發(fā)光分析儀

 

我們還生產(chǎn)滿足用戶和實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)需求的設(shè)備技術創新。

 

CLA-FS5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。
除了亮度之外重要作用,光譜測量也是可能的持續向好。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品,可用于所有應(yīng)用中的研究充足。

 

 

CLA-ID5

 

使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備進展情況。
只能測量亮度的積極性。當(dāng)不需要光譜測量時(shí)推薦使用。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量測

使用超靈敏CCD相機(jī)的設(shè)備至關重要。可以測量微弱發(fā)光的圖像不久前,并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時(shí)測量多個(gè)樣品提升行動。

 

 

CLA-SP3

 

定做產(chǎn)品

結(jié)合了CCD相機(jī)和衍射光柵的瞬時(shí)光度光譜測量設(shè)備能力建設。可以在短時(shí)間內(nèi)(0.1秒)測量高分辨率光譜。盡管需要一定量的光發(fā)射研究進展,但是也可以積分測量時(shí)間并測量光譜中隨時(shí)間的變化無障礙。

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