簡介：
雙式膜厚計LZ-373是一款中型雙膜測厚儀良好，具備電磁感應和渦流探頭結構，廣泛應用于測量磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層使命責任。該測厚儀具有廣泛的測量范圍和高精度測量能力空白區，支持數據存儲和統(tǒng)計計算功能解決方案。

主要特點：

1. 雙式測量方法：雙式膜厚計LZ-373采用電磁感應和渦流組合型測量方法，適用于不同類型的涂層和金屬材料測量的特性。

2. 寬泛測量范圍：電磁感應型測量范圍為0~2500μm或99.0mils脫穎而出，渦流型測量范圍為0~1200μm或47.0mils。

3. 高精度測量：測量精度在50μm以下為±1μm，在50μm以上且1000μm以下為±2%推動，1000μm以上為±3%相對較高。

4. 數據存儲與統(tǒng)計計算：膜厚計具有大約39,000個點的數據內存，并支持統(tǒng)計計算功能信息。

5. 多種兼容標準：雙式膜厚計LZ-373兼容多種標準相關，如JIS、ISO豐富內涵、BS和ASTM標準生產效率。

6. 方便實用的設計：該測厚儀采用數字式顯示，帶背光LCD適應性，最小顯示位數為0.1μm節點。支持外部輸出連接計算機，具備便攜包和長達100小時的電池壽命落地生根。

技術規(guī)格：

• 測量方法：電磁感應/渦流組合型

• 測量目標：磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層

• 測量范圍：電磁感應型0~2500μm的特點，渦流型0~1200μm

• 測量精度：50μm以下為±1μm，50μm以上且1000μm以下為±2%有效保障，1000μm以上為±3%

• 解決能力：100μm以下為0.1μm大數據，100μm以上為1μm

• 兼容標準：電磁感應型兼容JIS、ISO相結合、BS和ASTM標準提升，渦流型兼容JIS、ISO不折不扣、BS和ASTM標準

• 數據存儲器數量：約39,000個點

• 外部輸出：計算機（USB或RS-232C）

• 電源：電池1.5V（AA堿性）x 4

• 工作溫度限制：0～40℃

• 尺寸/質量：75（寬）×145（深）×31（高）毫米支撐能力，0.34千克

附件和選項：
附件：標準板（10μm、50μm高效利用、100μm特征更加明顯、500μm、1000μm講理論、1500μm）的可能性、標準板盒、鐵底座（FE-373）服務為一體、鋁底座（NFE-373）問題、探頭適配器、便攜包全會精神、電池1.5V（AA堿性）x 4
選項：可選標準板系統穩定性、測量支架LW-990、計算機電纜集中展示、RS-232C-USB電纜實力增強、數據管理軟件：“Data Logger LDL-03"

結語：
雙式膜厚計LZ-373是一款高精度薄膜測厚儀體系流動性，具備電磁感應和渦流組合型測量方法，可測量磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層帶來全新智能。該測厚儀具有廣泛的測量范圍實現了超越、高精度測量能力和數據存儲統(tǒng)計計算功能，滿足各種標準要求去完善。便攜設計和多種附件和選項使其易于操作和使用橋梁作用，適用于工業(yè)領域的薄膜測厚應用。